Leandro Almeida
PANalytical
Resumo
A Difração de Raios X é uma poderosa técnica analítica, com
diversas aplicações e está presente nos mais diversos setores, tanto no
setor público quanto privado. Cada dia novos desafios técnicos se impõe
a esta técnica, que evolui continuamente.
Neste contexto, Difratômetros de Raios X multifuncionais tem um papel
interessante por otimizar a rotina de trabalho e os recursos disponíveis
no laboratório, atendendo a projetos diversos em um contexto
multidisciplinar.
A maior parte dos trabalhos em difratometria de raios X é efetuado
utilizando a tradicional e consolidada geometria Bragg-Brentano.
Transpondo os limites típicos desta configuração a PANalytical lança a
geometria Bragg-Brentano HD, que oferece o menor background e a melhor
relação sinal ruído além de extender o uso da óptica a diversas outras
aplicações como análise de filmes finos e SAXS.
Esta apresentação visa um resumo das perspectivas atuais da
difratometria de pós, micro-difração, camadas / filmes, reflectometria,
distribuição de pares, análise de espalhamento a baixo ângulo e
cristalografia com foco no difratômetro multifuncional Empyrean, com
estudo de aplicações atualmente em desenvolvimento.